リトロー分散プリズムとエシェル回折格子のクロス分散ダブル分光配置により、高分解能で広波長域を同時測定することが出来るシステムです。ANDOR製ICCD検知器を搭載し、分光計器製専用ソフトウェアBluxで、制御を行えます。
各種測定用光学系と合わせることにより、プラズマ分光やPLやLIBSなどあらゆる測定に対応できます。


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EMDP-100 エシェル分光システム 〉
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各部名称

- XY調整機能付きファイバホルダ
- 入射スリット
- 第一モノクロ(次数範囲選択用プリズム分光部)
- 中間スリット
- 第二モノクロ(波長分散用エシェル分光部)
- ICCD検出器
測定例
測定データ例(波長410~910nm Hgランプ測定データ例)

特長
- 波長範囲200~900nmの測定が1台のエシェル分光システムで可能になりました。
- リトロー分散プリズムの選択により、測定波長範囲をP1(200~270nm)・P2(270~410nm)・P3(410~900nm)の3種類から選択ができます。
- 測定分解能は、全領域で8500(λ/△λ)以上を達成。
- 専用ソフトBluxで、ICCD検知器で測定したデータの読出しからスペクトル表示までのデータ処理(波長付け・次数繋ぎ・等間隔補正など)を行えます。
仕様
| 光学配置 | クロス分散ダブル分光器 |
| 測定波長範囲【3波長域】 | 200~900nm【200~270nm(P1)・270~410nm(P2)・410~900nm(P3)】 |
| 測定分解能 | 8500以上(スリット幅50μm) |
| スペクトル半値幅 | 0.02~0.1nm(200~900nmにおいて) |
| 焦点距離 | 波長分散用330mm 次数分離用200mm |
| 開口比 | F=10 |
| 波長分散 | エシェル回折格子 |
| 次数分散 | リトロー分散プリズム |
| 入射ポート | XY調整機能付きファイバホルダ |
| ICCD素子数 | W2048×H512pixel(有効1800×512pixel) |
| ICCD素子サイズ | 13.5×13.5μm |
| ICCDエリアサイズ | W27.648mm×H6.912mm(有効W24.975mm×H6.912mm) |
標準構成
- エシェル分光器 本体
- エシェル回折格子(54.49 本/mm、ブレーズ角 約46°)
- リトロー分散プリズムP1(200~270nm)
- リトロー分散プリズムP2(270~410nm)
- リトロー分散プリズムP3(410~900nm)
- XY調整機能付きファイバホルダ
- 専用光ファイバ(単芯コア230μm)
- ICCD検出器(ANDOR社製)
- エシェル分光器専用ソフトウェア(Blux)
オプション品
- 重水素ランプ標準光源
- ハロゲンランプ標準光源
- 測定用光学系
- 各種光ファイバ及びファイバスタンド
外形寸法
- 本体:約W550×D670×H475mm
- 重量:約20Kg





